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GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點、條干電子檢測試驗方法，PDF



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樓主











發表于 2018-3-21 20:58:56
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GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點、條干電子檢測試驗方法Silk—Electronic test method for defects and evenness of raw silk

& P( K1 n9 _2 `* @( d/ B- h本標準規定了采用電容和光電生絲電子檢測儀對生絲疵點、條干進行檢測的試驗方法。 1 q4 j8 I2 L7 g6 S6 m9 V

本標準適用于名義纖度在13.3 dtex～76.7 dtex (12 den～69 den)的絞裝和筒裝生絲、浸泡絲。' D3 U- H0 S$ I4 V0 O/ z: t/ k







GBT 35445-2017 絲 生絲疵點、條干電子檢測試驗方法.zip

(805.45 KB, 下載次數: 3)






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疵點, 生絲, 條干
























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